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供應光學薄膜測厚儀
基本信息
KMAC 簡介
K-MAC(株)公司附屬韓國物理性質分析研究所,主要開發(fā)生產具有高科技含量的 物理化學分析儀器和應用儀器。K-MAC(株)公司在北京設有分公司,可為您提供 及時的售前、售后服務。方便您的研究、生產。
設備簡介?
1.特點
l 操作簡單易懂 l 非接觸式、非破壞式測量方法 l 可同時測量多層膜厚度 l 原地測量 l 價 格合理
2.應用領域
半導體 Poly-Si, GaAS, GaN, InP, ZnS, SiGe ...
絕緣材料 SiO 2 , Si 3 N 4 , TiO 2 , ITO, ZrO 2 , BTS, HfO 2 ...
聚合物 PVA, PET, PP, PR ...
LCD a-Si, n+a-Si,Oxides, ITO, Cell Gap, Photoresist & Polyimide
Film
光學鍍層 Hardnes Coating, Anti-Reflection Coating, Filters, Packing & Functional Film ...
可紀錄材料 Phtosensitive Drum, Video Head, Optical Disk ...
其它 Photoresist Film on CRT & Shadow Mask, Thin Metal Films, Laser
Mirrors ...
3.可用的基片
Silicon SOI Al 2 O 3 Aluminium
SOS GaAs Glass ......
軟件
⊙ 實時測量
⊙ 再現性好(精度可達 1A 以下)
⊙ 厚度及光學常數(折射率、消光系 數)
⊙ 一次較多 3 層薄膜測量
⊙ 測量結果制圖
⊙ X-Y-Z 移動控制
⊙ CCD 影像顯示
⊙ 自定義測量過程
⊙ 打印預覽模式
4.分光反射鏡的工作原理
利用可見光非接觸式測量 光源與信號通道 如右圖所示,鎢-鹵光源發(fā)出的光通過 光學顯微鏡入射到樣片上的薄膜上,然 后從薄膜表面和基底反射的光通過入射 光纖探針內中間的一個發(fā)射光收集光纖 又入射到分光計(spectrometer)。這 個反射光由探測器里的光柵根據波長分 解后,由 CCD 轉換成電子信號,再由 A/D 轉換器轉換成數字信號,較后通過通訊 端口輸入到電腦進行分析。
干涉頻譜
– 相干光 → 表面反射 + 薄膜 / 底層反射 = 干 涉現象 → 相長 / 相消干涉(與波長有關)
光譜擬合薄膜厚度
– 在波長范圍里測量頻譜的正弦波型由 薄膜厚度和 N&K 值決定
– 由擬合計算測定頻譜來優(yōu)化薄膜厚度 和 N&K 值
5技術指標
類型 手動對焦
測量樣本尺寸 ≤ 4"
特點 快速測量 & 操作簡單
基于用戶友好界面的 Windows 操作 圖像打印功能 & 數據保存
平臺尺寸 150 x 120mm(70 x 50mm 行程)
測量范圍 200?~ 35 ?
光斑大小 一般 20 ?
測量速度 1~2 sec./site
應用領域 Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics :
Semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
物鏡 三目鏡頭
目鏡 內傾四孔轉換器 t
北京燕京電子有限公司基本信息
北京燕京電子有限公司成立于1988年,是北京電子控股有限責任公司直屬企業(yè),是一家大部分國家集成供應商和有經驗設備及儀器的服務商。公司目前經營規(guī)模超億元,主營業(yè)務為向國內外科研院所、大型設備制造業(yè)和資金業(yè) 提供成套集成供應及有經驗設備儀器的維護、運行等有經驗化的系統解決方案和服務。在大部分國家制造行業(yè),燕京公司在世界各地擁有眾多的長期代理商和合作伙伴,經過長期合作交流的實踐建立了廣泛的市場營銷網絡。同時與國內各相關領域的重要 廠商也建立有良好的合作關系,為大型設備制造業(yè)的客戶提供成套原材料、零部件及電子元器件。
員工人數:50-100人 廠房面積: 年營業(yè)額:人民幣5000萬元/年-人民幣1億元/年
年進口額: 年出口額: 主要市場:
客戶群:太陽能光伏玻璃分析檢測設備
公司名稱:北京燕京電子有限公司
注冊資本:人民幣2000萬元/年-人民幣5000萬元/年 公司網址:http://beijingec.glass.com.cn